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半导体测试设备

简介:

非接触方块电阻测试仪

产品详情

非接触无损方块电阻测试仪

产地:美国

 

原理和技术:

非接触方块电阻测量仪使用涡电流(Eddy Current)的测试原理。涡电流(也称为感应电流)可产生一个磁场,当磁场与导电材料接触时,会在材料中感应到涡流。根据感应涡流的电流大小,可以计算得到该材料的面电阻(方块电阻)。

 

该技术的优势:

1.是一种非接触、无损的测量方式,不破坏材料

2.可以测量密封在绝缘层内的导电层;

3.每秒采样次数高达数万次,测量速度快;

 

测量范围:

配备不同的测试头可以测量不同范围的面电阻。

10X测试头:5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;

1X测试头:0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ;

0.1X测试头:0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);

0.01X测试头:0.005 ~ 100(Ohms/sq);

 

应用领域:

- 防静电/导电薄膜;

- 天线;

- 汽车;

- 电池;

- 装饰薄膜/纸张;

- 显示器;

- 花线电路和柔性电路板;

- 电镀;

- 玻璃窗;

- 金属化电容用箔;

- 金属化标签;

- 微波感应器;

- 包装;

- 雷达吸波材料;

- 反射和反光材料;

- 半导体;

- 太阳能;

- 透明导电薄膜;

 

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