简介：

基于ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）

利用ZEISS的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。

利用ZEISS  METROTOM 轻松完成测量任务

 

Metrology inspection of a light metal component

测量与检验整体部件

ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。

 

Measurement of a base plug.

轻松且精准地进行多样化特征检测

利用ZEISS  METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。

 

ZEISS CT visualization and evaluation software